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          GlassWafe缺陷檢查裝置

          簡要描述:LODAS™ – BI12是列真株式會社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。

          • 產品型號:LODAS™ – BI12
          • 廠商性質:代理商
          • 產品資料:
          • 更新時間:2024-03-19
          • 訪  問  量: 1044

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          詳細介紹

          列真株式會社自創業以來,秉承“挑戰"、“創造"、“誠實"的經營理念,為顧客提供可靠、可信的產品和服務。運用激光掃描技術,專門制造、銷售半導體材料表面及內部檢查、石英玻璃表面檢查等檢查裝置。


          特征:

          • Glass Wafer的出貨檢查、過程評價

          • 可同時檢查表面,背面和內部的缺陷

          • 用微分干涉顯微鏡判斷、分析表面和背面的缺陷

          • 檢查對象:12inch、8inch、6inch、Glass Wafer

          • 檢查項目:表面和背面的顆粒、內部缺陷

          列真公司檢查裝置的維護、修理

          • 定期支持裝置安裝完成后的性能維持。

          • 24小時電話對應,全年無休的安心支持。

          • 認真對待客戶新的要求。

          • 召開技術研討會和充實各種手冊,讓顧客能夠自行維護和更換零件。

          • 提供HDD、激光光源等消耗品的免費診斷服務。


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